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可测量许多典型的厚度应用,包括镍上的金,环氧树脂上的铜,光致抗蚀剂,铜上的银,可伐合金上的锡,钢上的硝酸钛,锡铅合金。microderm beta反向散射厚度标准品(4个点集)包括裸露的基础材料样品,无限厚的涂层材料样品和两个可追溯到nist(美国国家标准技术研究院)的认证厚度标准。可以使用霍尔效应测量铜上的镍厚度,每个测量系统均配有台式测量仪,测量探针和导向器以及厚度标准,专为良好的易用性和效率而设计micro-derm的mp-900仅在mp-900结合了beta反向散射和霍尔效应测量技术,从而消除了对两个单独仪器的昂贵需求。紧凑的设计全面的测量功能x射线荧光机的经济替代品可提高通量45个非易失性校准存储器可让用户立即切换应用。
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独特的novram设计可通过-保持有价值的校准
备用电池
标准校准模式:4点,3点,2点,线性,
多点和锡铅。
自动特殊的多点锡铅校准模式
对不同的锡铅成分进行补偿和校正。
新的三点bbs模式消除了对“无限”涂层的需求
标准霍尔效应测量的多点校准模式
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