semiconsoft薄膜测量仪vis-凯发k8国际官网

mprobe vis-thin 薄膜测量系统是一款结构紧凑、功能多样的台式系统。它可以测量不同基底上 10nm - 150µm 厚度范围内的半透明薄膜。而且，它经济实惠，使用方便。mprobe vis(x) 的生产版本可承受振动，并可通过局域网连接24小时运行。它可用于在线和 oem 应用。它与无尘室环境兼容。mprobe20 visx 系统是 mprobe20 vis 系统的一个版本，在更长波长（> 700 nm）下的灵敏度有所提高。

灵活性高

500 多种扩展材料数据库

可以处理复杂的应用，没有层数限制，支持背面反射率、表面粗糙度、暗淡度等。

集成：轻松集成 tcp 服务器

经济实惠，性价比高

主机（包括光谱仪、光源）

sh200a 样品台，带聚焦镜头和微调装置

光纤反射探头

tfcompanion -ra 软件、usb许可证密钥、包含软件发布、用户指南和其他材料的 usb 记忆棒

usb / lan 电缆

24vdc 电源适配器（110/220v）

产地：美国

厚度范围： 10 nm - 150 μm

波长范围： 400nm -1000nm（典型校准范围：380-1050nm），visx 为 450nm -1050nm

波长分辨率： < 小于 1 nm，狭缝为 20 微米（整个光谱均匀一致）

连接： usb / 1 gbe lan

数据采集速率：1.5khz（max）

测量时间：10秒（min）

精度：<0.01nm 或 0.02%（在 200nm 氧化物上进行 100 次测量的 s.d.）。

准确度：<1nm 或 0.2%（取决于薄膜叠层）

稳定性：< 0.02nm 或 0.2%（每天测量 20 天）

光斑尺寸：< 1 mm

样品尺寸：>= 10 mm

光源：5w th 灯，10000 小时寿命（可选：20w th 灯，2000 小时寿命）

可快速可靠地测量大多数半透明或轻吸收薄膜： 氧化物、氮化物、光刻胶、聚合物、半导体（硅、砷化镓、asi、聚硅等）、硬涂层（sic、dlc、aln）、聚合物涂层（paralene、pmma、聚酰胺）、ito、电池间隙、氧化铝、薄金属膜（<50 纳米）等。