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产品介绍
htol（高温工作寿命）是一种测试方法，旨在在较长时间内对设备施加压力，从而可以计算设备的长期可靠性。该测试适用于广泛的元件制造应用，尤其是 ic 制造商，包括放大器、滤波器和收发器。该概念需要一个高功率信号源和一个射频分配器系统，以在大量 dut（被测设备）通道上并行分配测试信号，从而可以对可靠性进行统计上的计算。
htol-700-2700-1w 是一款现成的集成测试系统，专为 htol/老化测试应用而设计。完整的设置在一个标准的 19 英寸机柜中提供，能够在 700-2700 mhz 频段以 1w 的功率驱动 80 个并行 dut。信号源可通过 usb 或以太网控制（支持 http 和 telnet 网络协议）。提供完整的软件支持，包括我们用于 windows 的用户友好的 gui 应用程序和带有 windows 和 linux 环境编程说明的完整 api。
性能特点
- 完全集成的测试系统
- 80 个输出通道
- 每通道 1w 饱和功率
- 覆盖 700-2700 mhz 蜂窝频段
技术参数
电源：交流电源输入（90-260 v，47-63 hz）
工作温度：0 至 50 ºc
射频连接器
控制板：前面板
连接器：sma 母头
数量：80
功能：被测设备连接
尺寸：19” (w) x 37u (h) x 20” (d)
产品应用
高温工作寿命 (htol)
大功率老化/射频压力测试
半导体/元件鉴定
大功率信号源和分配
emc/emi 测试